一種基于偽失效壽命的LED可靠性快速評價方法
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上傳人：郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫 上傳時間： 2013-04-16 瀏覽次數(shù)： 47 |
| 作者 | 郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫 |
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| 單位 | 北京工業(yè)大學光電子技術省部共建教育部重點實驗室 |
| 分類號 | TN312.8 |
| 發(fā)表刊物 | 《發(fā)光學報》 |
| 發(fā)布時間 | 2013年 |
摘要：提出一種快速評價LED可靠性的有效方法。通過測試LED樣品的偽失效壽命,結合Minitab軟件進行數(shù)據(jù)分析,確定全部樣品的偽失效壽命服從二參數(shù)的威布爾分布。通過計算威布爾分布尺度參數(shù),比較不同樣品的尺度參數(shù)來評價產品的可靠性。該方法對LED的可靠性評價和壽命預測有一定的參考價值。
1引言隨著電子信息技術應用的日益廣泛,各種電子產品對現(xiàn)代社會的影響日益增大,產品結構的復雜以及使用條件的嚴苛使得產品發(fā)生故障及潛在失效的可能性越來越大,可靠性已經成為電子產品最重要的質量指標。傳統(tǒng)意義的可靠性評估主要是基于數(shù)理統(tǒng)計和壽命試驗形成的一套理論方
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