國內(nèi)照明電器行業(yè)的首個(gè)專業(yè)國際CB實(shí)驗(yàn)室，國家電光源質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(上海) 、國家燈具質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心、上海時(shí)代之光照明電器檢測有限公司與國際知名且資深的光學(xué)檢測設(shè)備制造商-美國Labsphere公司于2011年4月8日就聯(lián)合開發(fā)半導(dǎo)體照明測試儀器在上海簽訂了合作協(xié)議。時(shí)代之光同意將其擁有的專利(《LED正向電壓降和結(jié)溫曲線的測量裝置》專利號：ZL2009 2 0212653.0)用于美國Labsphere公司的“LED光、色、電及熱特性的檢測”系統(tǒng)中。

　　簽字協(xié)議現(xiàn)場

　　美國Labsphere公司參加簽字儀式的有總裁Peter Weitzman先生、前總裁Kevin Chittim先生、運(yùn)營副總裁David McManus先生、上海藍(lán)菲光學(xué)儀器有限公司總經(jīng)理肖冬先生、技術(shù)總監(jiān)于立民博士等。

　　上海市質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)技術(shù)研究院副院長謝亦群先生、上海時(shí)代之光照明電器檢測有限公司總經(jīng)理陳超中先生、副總經(jīng)理俞安琪先生、標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)部主任施曉紅女士、楊樾女士參加簽字儀式。

　　上海時(shí)代之光照明電器檢測有限公司總經(jīng)理陳超中先生與美國Labsphere公司總裁Peter Weitzman先生分別代表雙方在聯(lián)合開發(fā)檢測儀器合作協(xié)議上簽字。

　　時(shí)代之光的專利技術(shù)一旦與美國Labsphere公司先進(jìn)的光學(xué)測量儀器制造技術(shù)相結(jié)合，所開發(fā)的LED檢測儀器不僅具有LED在各不同的結(jié)溫條件下LED光、色、電參數(shù)的檢測功能，而且還將具有LED正向電壓降與結(jié)溫的關(guān)系曲線標(biāo)定和LED模塊的封裝熱阻的測量功能。這將使我國的LED相關(guān)的照明電器企業(yè)和檢測機(jī)構(gòu)在LED產(chǎn)品的開發(fā)和檢測方面具有世界領(lǐng)先的專業(yè)檢測儀器。