LED芯片壽命試驗過程全解析
|
上傳人： 上傳時間： 2012-09-26 瀏覽次數(shù)： 265 |
LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點，在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。
1、引言
2、壽命試驗條件的確定
3、過程與注意事項
4、壽命試驗臺的設(shè)計
下載資料需要0燈幣，如何得到燈幣？
最新評論
用戶名： 密碼：
