【技術專區(qū)】LED 封裝器件芯片結溫測試淺述(下)
摘要: 假設熱源到環(huán)境的導熱只有一個路徑,而且是一種材料,這種材料是各向同性而且形狀規(guī)則,有一定的熱阻與熱容,習慣上我們也同樣用電阻電容的符號來代表熱阻和熱容,熱源從材料的左表面流到右表面(環(huán)境),可以看到這樣的一個RC(阻容)網(wǎng)絡。
求解熱時間常數(shù)譜函數(shù)
我們再看回R(τ),其實如果我們知道了R(τ)的表達式,那么我們就相當于知道了這個系統(tǒng)的熱阻和熱容的關系,也就是知道了這個系統(tǒng)(福斯特網(wǎng)絡)的所有結構。那么為了得到我們系統(tǒng)的熱阻熱容結構,下面就開始把R(τ)求出來:

觀察右邊的形式,其實就是信號處理里最常見的卷積形式,即

到這里我們就得到了R(τ)的解析式,離結構還差一步之遙!
我們看看(式9),Wz(Z)是已知的可積函數(shù),d/dz·a(z)是單位階躍響應(時間對數(shù)化后)的微分,也就是導數(shù),我們都可以用計算機算出來。剩下的就只有反卷積運算了。反卷積運算的方法有很多,比如有貝葉斯反卷積法以及傅利葉頻域反卷積法,都是很成熟的算法,這里要涉及的知識較多,就不一一展開了。
現(xiàn)在我們得到了R(z)——熱時間常數(shù)譜函數(shù),它實際的圖像如圖9所示。

圖9 實際樣品的熱時間常數(shù)譜圖
這個函數(shù)圖像就是經過上述的數(shù)學變換及數(shù)學運算得出來的,我們下面就利用這個函數(shù)把熱阻熱容結構剖析出來。
從圖里我們可以明顯看出對應不同的 其幅值有不同起伏變化,表現(xiàn)出一定的離散性,我們就由此來定義這個熱時間常數(shù)譜函數(shù):

簡單來說就是把這個函數(shù)切成無數(shù)個小塊,把這些小塊都拼接起來就是R(ζ)了。而這每一個小塊就是對應1階福斯特結構,如圖10所示。

圖10 熱時間常數(shù)譜函數(shù)圖像與n階福斯特網(wǎng)絡對應關系
根據(jù) 的定義,我們可以得到

福斯特-考爾網(wǎng)絡轉換
很多讀者應該會認為到這里已經結束了,但事實上,這只是對應福斯特網(wǎng)絡的熱阻熱容值,
而在福斯特網(wǎng)絡這個模型里的熱容是節(jié)點到節(jié)點的熱容值,它與器件的實際情況不一致,是沒有對應的物理意義的。為什么呢?這里我們把這個小問題留給大家(提示:用電容來舉例,假如一個系統(tǒng)由若干個電容串聯(lián),系統(tǒng)的總容值與各個電容的關系怎么算?)。因此福斯特結構并不適合描述我們半導體器件的熱阻熱容特性。
雖然福斯特結構不適合用來描述我們實際器件的情形,但有另一種結構卻可以與它相互轉換,這個結構我們稱為考爾(Cauer)結構,如圖11所示。

圖11 a)福斯特結構;b)考爾結構
福斯特結構與考爾結構對于單端無源RC網(wǎng)絡都是等價的,因為他們可以相互轉換,但考爾結構與我們談到的器件的熱阻熱容結構可以說是完全吻合,我們之所以談了這么多福斯特結構是因為它的時間常數(shù)計算是一種很優(yōu)秀的數(shù)學手段,同時減少了很多復雜的計算。
由于篇幅有限,這兩個網(wǎng)絡的轉換過程我們這里就不做多述了,經過轉換之后我們會得到的Rthi和Cthi的新的表達形式。
繪制結構函數(shù)
我們得到了考爾網(wǎng)絡對應下的熱阻Rthi和熱容Cthi,但這些參數(shù)都不能直觀地表示出來,我們現(xiàn)在用圖3構造的模型把這個阻容結構表示出來,如圖12所示。

圖12 理想一維熱傳導模型
圖12中: 表示平行于熱流路徑的材料厚度;A表示垂直于熱流路徑的材料橫截面積; 表示材料的熱導率; 表示單位體積的熱容值。我們可以得出總熱阻與總熱容的表達式:

利用(式13)與(式14),與考爾網(wǎng)絡對應下的熱阻Rthi和熱容Cthi結合,我們就得到我們苦苦追求的結構函數(shù),如圖13所示:

圖13 考爾結構與結構函數(shù)的對應
至此我們對結構函數(shù)的推導終于結束了~
在最后,我們再把整個推導用流程圖的方式展示出來,如圖14所示:

圖14 結構函數(shù)推導流程圖

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