日期：2012年7月20日 星期五

　　時間：下午2:00-4:00

　　地點(diǎn)：佛山市香港科技大學(xué)LED-FPD工程技術(shù)研究開發(fā)中心(具體地址見公告下方)

　　報告摘要

　　對于電子制造行業(yè)而言，掌握板級工程工藝失效分析和可靠性工程技術(shù)是實(shí)現(xiàn)電路板級機(jī)械完整性和信號完整性的必然要求。板級工程工藝失效分析是基于失效分析對象(PCB、焊點(diǎn)、器件與封裝)的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析的過程，其關(guān)鍵在于通過合適的分析流程、運(yùn)用恰當(dāng)?shù)姆治鰷y試設(shè)備進(jìn)行失效模式、失效機(jī)理以及失效根因的分析和判斷，只有這樣才能真正的挖掘出板級工程工藝失效問題的本質(zhì)，并閉環(huán)到前端進(jìn)行設(shè)計、物料、過程控制的改善?？煽啃允菍ο鬂M足信號規(guī)格與環(huán)境和時間約束條件下的能力，只有通過理解工藝可靠性的概念，根據(jù)研究對象及其服役條件確定合適的設(shè)計方法和試驗(yàn)評估方法，并按照一定的可靠性標(biāo)準(zhǔn)才可能實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的可靠性設(shè)計目標(biāo)。本報告針對板級工程工藝失效分析和可靠性工程技術(shù)的基本理論和經(jīng)驗(yàn)實(shí)踐進(jìn)行了總結(jié)和整理，并結(jié)合案例進(jìn)行了具體的分析和指導(dǎo)。

　　主講人簡介

圖：劉桑博士

　　劉桑博士在西南交通大學(xué)材料工程系獲得學(xué)士和碩士學(xué)位，并于2000年在華南理工大學(xué)獲得材料加工工程博士學(xué)位。劉桑博士長期從事板級電子工程工藝技術(shù)領(lǐng)域包括電子制造工藝技術(shù)、器件與電路板失效分析與可靠性技術(shù)、信號質(zhì)量工程設(shè)計與實(shí)現(xiàn)方面的研究開發(fā)工作。2000年加入華為技術(shù)有限公司，現(xiàn)任產(chǎn)品工程工藝技術(shù)規(guī)劃部部長。先后進(jìn)行多項(xiàng)板級工藝失效分析能力、可靠性試驗(yàn)?zāi)芰σ约胺抡娣治瞿芰Φ难芯抗ぷ?，?chuàng)建了工藝可靠性技術(shù)以及設(shè)計平臺，建立了工藝失效分析與測試實(shí)驗(yàn)室。2008年負(fù)責(zé)籌建華為技術(shù)有限公司美國研究所工程工藝能力中心，并參與和負(fù)責(zé)多項(xiàng)創(chuàng)新工程工藝技術(shù)的開發(fā)和引入。2011年起從事產(chǎn)品工程工藝技術(shù)規(guī)劃工作，負(fù)責(zé)工程工藝領(lǐng)域技術(shù)路標(biāo)、技術(shù)戰(zhàn)略與技術(shù)投資策略等。劉桑博士先后發(fā)表國內(nèi)外論文20余篇，專利7項(xiàng)，并積極參與iNEMI、SMTA、IPC、CPMT等行業(yè)協(xié)會的技術(shù)活動。

　　注意事項(xiàng)

　　1. 本次工作坊免費(fèi)對外開放，有意參加者需在7月20日前登錄www.fsldctr.org 在線注冊。由于座位有限，報名采取先到先得原則。

　　2. 本次工作坊只以普通話演講。